| 标准号： |
NF C96-050-22-2014 |
| 英文名称： |
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 22 : electromechanical tensile test method for conductive thin films on flexible substrates |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体分立器件综合 |
| 发布日期： |
2014-12-26 |
| 发布单位： |
FR-AFNOR |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 实施日期： |
2014-12-26 |
| ICS分类： |
半导体材料>>半导体材料 |
| 正文语言： |
法语 |
| 原文名称： |
Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 22 : méthode d'essai de traction électromécanique pour les couches minces conductrices sur des substrats souples |
| 页数： |
18P.;A4 |
| 引用标准： |
CEI 62047-2/2006;CEI 62047-3:2006;CEI 62047-8:2011;ISO 527-3 |
| 采用关系： |
EN 62047-22-2014,IDT;CEI 62047-22-2014,IDT |
| 内容提要（EN）： |
Mechanical properties of materials;Variable;Electrical properties and phenomena;Electronic engineering;Deformation;Tensile stress test;Tensile tests;Mechanical testing;Expansion tests;Electrical properties;Measuring;Tensile testing;Measurement;Semiconductor devices;Materials |
| 内容提要（QT）： |
DISPOSITIF SEMI-CONDUCTEUR;MICROELECTRONIQUE;MATERIAU;ESSAI MECANIQUE;ESSAI DE TRACTION;MESURAGE;PROPRIETE MECANIQUE;PROPRIETE ELECTRIQUE;VARIATION;DEFORMATION;RESISTANCE ELECTRIQUE : PROPRIETE;Electronique;Variable;Caracteristique electrique;Propriete mecanique de la matiere;Deformation;Essai mecanique;Materiau;Caracteristique mecanique;Propriete et phenomene electrique |
| 归属： |
法国 |
