标准号: |
ISO 22493-2014 |
英文名称: |
Microbeam analysis - Scanning electron microscopy - Vocabulary |
中标分类: |
仪器仪表>>记录仪器及光线示波器 |
发布日期: |
2014-04 |
发布单位: |
IX-ISO |
标准状态: |
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ICS分类: |
成像技术 (词汇)>>成像技术 (词汇) |
起草单位/标准公告: |
ISO/TC 202 Analysenverfahren mit Feinstrahltechnik;ISO/TC 202 Microbeam analysis;ISO/TC 202 Analyse par microfaisceaux |
正文语言: |
英语 |
页数: |
20P.;A4 |
被代替标准: |
ISO 22493-2008;ISO/FDIS 22493-2013 |
引用标准: |
ISO 704-2009;ISO 1087-1-2000;ISO 10241-1992;ISO 18115-1-2013;ISO 23833-2013 |
采用关系: |
BS ISO 22493-2014,IDT |
内容提要(EN): |
Analysis;Analysis methods;Definitions;Electron beams;Methods of analysis;Microanalysis;Microscopy;Scanning electron microscopes;Terminology;Vocabulary |
归属: |
国际 |