| 标准号： |
ISO 23833-2013 |
| 英文名称： |
Microbeam analysis - Electron probe microanalysis (EPMA) - Vocabulary |
| 中标分类： |
仪器仪表>>电子光学与其他物理光学仪器 |
| 发布日期： |
2013-04 |
| 发布单位： |
IX-ISO |
| 标准状态： |
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| ICS分类： |
化工技术 (词汇)>>化工技术 (词汇) |
| 起草单位/标准公告： |
ISO/TC 202 |
| 正文语言： |
英语 |
| 页数： |
34P.;A4 |
| 被代替标准： |
ISO 23833-2006;ISO/FDIS 23833-2012 |
| 采用关系： |
BS ISO 23833-2013,IDT;NEN-ISO 23833-2013 en-2013,IDT |
| 内容提要（CN）： |
分析;分析方法;定义;电子束;分析法;微量分析;术语学;词汇表 |
| 内容提要（EN）： |
Analysis;Analysis methods;Definitions;Electron beams;Methods of analysis;Microanalysis;Terminology;Vocabulary |
| 归属： |
国际 |
