标准号: |
DIN EN 61810-2-1-2018 |
英文名称: |
Electromechanical elementary relays - Part 2-1: Reliability - Procedure for the verification of B10 values (IEC 61810-2-1:2017); German version EN 61810-2-1:2017 |
中标分类: |
电工>>控制继电器 |
发布日期: |
2018-0701 |
发布单位: |
DE-DIN |
标准状态: |
请与本站工作人员进行确认 |
实施日期: |
2018-07-01 |
ICS分类: |
继电器>>继电器 |
起草单位/标准公告: |
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE;German Commissi |
正文语言: |
德语 |
原文名称: |
Relais électromécaniques élémentaires - Partie 2-1: Fiabilité - Procédure de vérification des valeurs de B10 (IEC 61810-2-1:2017); Version allemande EN 61810-2-1:2017 |
页数: |
22P.;A4 |
附注: |
History:DIN EN 61810-2-1-2018-07;DIN EN 61810-2-1-2015-08;DIN EN 61810-2-1-2012-01;DIN IEC 61810-2-1-2009-06 |
被代替标准: |
DIN EN 61810-2-1-2012;DIN EN 61810-2-1-2015 |
引用标准: |
DIN EN 61810-1-2015;DIN EN 61810-2-2012;DIN EN 61810-3-2016;DIN EN 62061-2016;DIN EN ISO 13849-1-2016;DIN EN ISO 13849-2-2013;IEC 61810-1-2015;IEC 61810-2-2017;IEC 61810-3-2015;IEC 62061-2005;ISO 13849-1-2015;ISO 13849-2-2012 |
采用关系: |
EN 61810-2-1-2017,IDT;IEC 61810-2-1-2017,IDT |
内容提要(EN): |
All-or-nothing relays;Availability;Characteristics;Confidence limits;Contact;Contact behaviour;Contact relays;Control equipment;Definitions;Electrical engineering;Electromechanical;Electromechanics;Electronic engineering;Environmental condition;Evaluations;Failure;Failure analysis;Failure criterion;Failure frequency;Failure rates;Functional capability;Functional reliability;Life (durability);Life test;Measurement;Measuring relays;Measuring techniques;Operational mode;Parameters;Probability;Properties;Quality assurance;Random samples;Rated current;Rated voltage;Ratings;Relays;Reliability;Service life;Statistical methods of analysis;Switch clearance;Telecommunication;Telecommunications;Test circuits;Test results;Testing;Testing conditions;Weibull;Weibull distribution |
内容提要(QT): |
Essai;Tension de service nominal;Relais électrique de mesure;Circuit de test;Tension nominale;Méthodes d'essai;Mesurage;Conditions d'essai;Défectuosité;Microélectronique;Matériel de commande;Fiabilité;Assurance de la qualité;Electronique moléculaire;Appareils de controle;Définition;Analyse de défaillance;Relais de tout-ou-rien;Télécommunication;Fiabilité fonctionnelle;Courant service nominal;Paramètre;Durée de vie;Métrologie;Essai d'endurance;Analyse statistique;Electromécanique;Courant nominal;Metrologie;Caractéristique nominale;Condition d'environnement;Electronique;Propriété;Capabilité de fonctionner;Relais;Durée de vie utile;Analyse des dégats;Garantie de la qualité;Durée de service;Evaluation;Mesurage, essai et instruments;Attribut;Relais électrique;Valeur nominale;Système de commande;Technique de mesure;Prélèvement improvisé;Electrotechnique;Défaillance;Disponibilité;Aux de défaillance;Caractéristique;Limite de confiance;Contact;Méthode de mesure;Valeur caractéristique;Résultat d'essai;Relais électrique à contact;Probabilité;Appareil de régulation |
归属: |
德国 |