| 标准号： |
BS QC 700000-1991 |
| 英文名称： |
Harmonized system of quality assessment for electric components - Generic specification for discrete devices and integrated circuits |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>微集成电路综合 |
| 发布日期： |
1991-09-30 |
| 发布单位： |
GB-BSI |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 实施日期： |
1991-09-30 |
| ICS分类： |
集成电路、微电子学>>集成电路、微电子学 |
| 起草单位/标准公告： |
BSI |
| 正文语言： |
英语 |
| 页数： |
54P.;A4 |
| 被代替标准： |
86/24762 DC-1986;BS 9970 Part 0-1985 |
| 采用关系： |
IEC 60074-1963,NEQ;IEC 60747-10-1991,IDT;IEC 60747-10 AMD 1-1995,IDT |
| 内容提要（CN）： |
方位;半导体器件;抽样方法;作标记;加速度试验;文献;尺寸;质量评估;质量评估;规范(验收);检验;质量保证体系;评估的质量;能力鉴定;耐久试验;集成电路;资格鉴定;抽样表;认可试验;电子设备及元件;试验条件 |
| 内容提要（EN）： |
Discrete;Discrete devices;Electrical engineering;Electrical measurement;Electronic engineering;Electronic equipment and components;Environmental testing;Generic specification;Inspection;Integrated circuits;Marking;Measurement;Quality;Quality assessment;Quality assurance;Quality assurance systems;Samples;Semiconductor devices;Specification;Specifications;Testing;Type approval;Visual inspection (testing) |
| 归属： |
英国 |
