| 标准号： |
IEC 61124-2012 |
| 英文名称： |
Reliability testing - Compliance tests for constant failure rate and constant failure intensity |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>可靠性和可维护性 |
| 发布日期： |
2012-05 |
| 发布单位： |
IX-IEC |
| 标准状态： |
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| ICS分类： |
统计方法的应用>>统计方法的应用 |
| 起草单位/标准公告： |
IEC/TC 56 |
| 正文语言： |
英语 |
| 原文名称： |
Essais de fiabilité – Plan d’essais de conformité d’un taux de défaillance constant et d’une intensité de défaillance constante (Edition 3.0) |
| 页数： |
248P;A4 |
| 附注： |
History:IEC 61124 (2012-05);IEC 56/1461/FDIS (2012-01);IEC 56/1347/CDV (2009-11);IEC 61124 (2006-03);IEC 56/1081/FDIS (2005-11);IEC 56/930/CDV (2003-12);IEC 61124 (1997-07);IEC 56/531/FDIS (1997-02);IEC 60605-7 AMD 1 (1990-05);IEC 60605-7 (1978) |
| 被代替标准： |
IEC 56/1461/FDIS-2012;IEC 61124-2006 |
| 采用关系： |
EN 61124-2012,IDT |
| 增补： |
IEC 61124 Corrigendum 1-2013 |
| 内容提要（CN）： |
算法;一致性;控制图;缺陷;电气器具;电气工程;电驱动装置;设备;失效;失效率;检验;数学计算;周期;质量保证;可靠性;可靠性试验;工作寿命;统计方法分析;统计学;试验持续时间;试验;故障间隔时间 |
| 内容提要（EN）： |
Algorithms;Consistency;Control charts;Defects;Electric appliances;Electrical engineering;Electrically-operated devices;Equipment;Failure;Failure rates;Inspection;Mathematical calculations;Period;Quality assurance;Reliability;Reliability testing;Service life;Statistical methods of analysis;Statistics;Test duration;Testing;Time between failures |
| 内容提要（QT）： |
Algorithmus;Ausfall;Ausfallabstand;Ausfallrate;Berechnung;Betriebsdauer;Betriebsmittel;elektrisches Betriebsmittel;Elektroger？t;Elektrotechnik;Fehler;Funktionsf？higkeit;Prüfdauer;Prüfplan;Prüfung;Prüfverfahren;Qualit？tsprüfung;Qualit？tssicherung;Statistik;statistische Auswertung;übereinstimmung;Zeitraum;Zuverl？ssigkeit;Zuverl？ssigkeitsprüfung |
| 归属： |
国际 |
