| 标准号： |
IEC 61014-2003 |
| 英文名称： |
Programmes for reliability growth |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>可靠性和可维护性 |
| 发布日期： |
2003-07 |
| 发布单位： |
IX-IEC |
| 标准状态： |
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| ICS分类： |
机器、装置、设备的特性和设计>>机器、装置、设备的特性和设计 |
| 起草单位/标准公告： |
IEC/TC 56 |
| 正文语言： |
英语 |
| 原文名称： |
Programmes de croissance de fiabilité (Edition 2.0) |
| 页数： |
96P.;A4 |
| 附注： |
History:IEC 61014 (2003-07);IEC 56/859/FDIS (2003-04);IEC 56/793/CDV (2002-04);IEC 61014 (1989-10) |
| 被代替标准： |
IEC 56/859/FDIS-2003;IEC 61014-1989 |
| 引用标准： |
IEC 60300-1-2003;IEC 60300-2-1995;IEC 60300-3-1-2003;IEC 60300-3-5-2001;IEC 60605-2-1994;IEC 60605-3 Reihe;IEC 60605-4-2001;IEC 60812-1985;IEC 61025-1990;IEC 61160-1992;IEC 61164-1995 |
| 采用关系： |
DIN EN 61014-2004,IDT;BS EN 61014-2003,IDT;EN 61014-2003,IDT;NF C20-317-2003,IDT;OEVE/OENORM EN 61014-2004,IDT;PN-EN 61014-2004,IDT;PN-EN 61014-2007,IDT;UNE-EN 61014-2004,IDT;GOST R 51901.6-2005,IDT |
| 内容提要（CN）： |
故障;缺陷与故障;程序;计算机软件;失效率;试验;电气元件;计算机硬件;可靠性增长;电子工程;电子设备及元件;电气工程;数学计算;可靠度;定义;试验条件 |
| 内容提要（EN）： |
Computer hardware;Computer software;Defects;Definitions;Electrical components;Electrical engineering;Electronic engineering;Electronic equipment and components;Failure;Failure rates;Hardware;Mathematical calculations;Programmes;Reliability;Reliability growth;Testing;Testing conditions |
| 内容提要（QT）： |
Ausfall;Ausfallrate;Begriffe;Berechnung;Definition;elektrisches Bauteil;Elektronik;elektronisches Bauelement;Elektrotechnik;Fehler;Hardware;Programm;Prüfbedingung;Prüfung;Prüfverfahren;Software;Zuverl？ssigkeit;Zuverl？ssigkeitswachstum |
| 归属： |
国际 |
