| 标准分类 Standards |
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| 中文名称:IEEE Std 1641标准使用指南:信号和试验定义用IEEE标准 |
| 标准号:IEEE 1641.1-2013 |
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![]() |
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| 标准号: |
IEEE 1641.1-2013 |
| 英文名称: |
Guide for the Use of IEEE Std 1641@ IEEE Standard for Signal and Test Definition |
| 中标分类: |
0>>0 |
| 发布日期: |
2013 |
| 发布单位: |
US-IEEE |
| 标准状态: |
请与本站工作人员进行确认 |
| ICS分类: |
电子元件综合>>电子元件综合 |
| 正文语言: |
英语 |
| 页数: |
324P;A4 |
| 附注: |
DY348 |
| 被代替标准: |
IEEE 1641.1-2006 |
| 内容提要(CN): |
全系统用简略试验语言;全系统用简略试验语言(ATLAS);定义;电子设备及元件;电子系统;指导手册;测量;信号;规范(验收);开关操作;试验程序;测试信号;试验;使用 |
| 内容提要(EN): |
Abbreviated Test Language for All Systems;ATLAS;Definitions;Electronic equipment and components;Electronic systems;Guide books;Measurement;Signals;Specification (approval);Switching;Test programs;Test signals;Testing;Use |
| 归属: |
美国 |
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下载“电子元件综合”相关标准(下载...)
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