| 标准分类 Standards |
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| 中文名称：评定硅电子器件辐射强度试验用钴60辐射源的低能伽马成分的电离箱应用的标准试验方法 |
| 标准号:ASTM E1250-2015 |
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| 标准号： |
ASTM E1250-2015 |
| 英文名称： |
Standard Test Method for Application of Ionization Chambers to Assess the Low Energy Gamma Component of Cobalt-60 Irradiators Used in Radiation-Hardness Testing of Silicon Electronic Devices |
| 中标分类： |
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| 发布日期： |
2015 |
| 发布单位： |
US-ASTM |
| 标准状态： |
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| ICS分类： |
电子元件综合>>电子元件综合 |
| 起草单位/标准公告： |
E10.07 |
| ***： |
Test |
| 页数： |
10P.;A4 |
| 内容提要（EN）： |
absorbed dose; Co-60 irradiators; dose enhancement; ionization chamber; radiation hardness testing; |
| 归属： |
美国 |
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