| 标准号： |
ISO 16700-2016 |
| 英文名称： |
Microbeam analysis - Scanning electron microscopy - Guidelines for calibrating image magnification |
| 中标分类： |
仪器仪表>>放大镜与显微镜 |
| 发布日期： |
2016-08 |
| 发布单位： |
IX-ISO |
| 标准状态： |
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| ICS分类： |
光学设备>>光学设备 |
| 起草单位/标准公告： |
ISO/TC 202 Analysenverfahren mit Feinstrahltechnik;ISO/TC 202 Microbeam analysis;ISO/TC 202 Analyse par microfaisceaux |
| 正文语言： |
英语 |
| 页数： |
18P.;A4 |
| 被代替标准： |
ISO 16700-2004;ISO/DIS 16700-2015 |
| 引用标准： |
ISO GUIDE 30-2015;ISO GUIDE 34-2009;ISO GUIDE 35-2006;ISO/IEC GUIDE 98-3-2008;ISO 5725-1-1994;ISO/IEC 17025-2005 |
| 采用关系： |
BS ISO 16700-2016,IDT;NEN-ISO 16700-2016 en-2016,IDT |
| 内容提要（EN）： |
Analysis;Analysis methods;Calibration;Definitions;Electron beams;Electron microscopes;Image production;Images;Magnification;Magnification factor;Methods of analysis;Microanalysis;Scanning electron microscopes;Spectroscopy |
| 归属： |
国际 |
