| 标准号： |
EN IEC 62228-1-2018 |
| 英文名称： |
Integrated circuits - EMC evaluation of transceivers - Part 1: General conditions and definitions (IEC 62228-1:2018); German version EN IEC 62228-1:2018 |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体集成电路 |
| 发布日期： |
2018-12 |
| 发布单位： |
EN |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 实施日期： |
2018-12-01 |
| ICS分类： |
集成电路、微电子学>>集成电路、微电子学 |
| 起草单位/标准公告： |
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE;German Commissi |
| 正文语言： |
英语 |
| 原文名称： |
Circuits intégrés - évaluation CEM des émetteurs-récepteurs - Partie 1: Conditions générales et définitions (IEC 62228-1:2018); Version allemande EN IEC 62228-1:2018 |
| 页数： |
12P.;A4 |
| 附注： |
History:DIN EN IEC 62228-1-2018-12;DIN EN 62228-1-2017-04 |
| 被代替标准： |
EN 62228-1-2017 |
| 引用标准： |
DIN EN 61967-1-2003;DIN EN 61967-4-2006;DIN EN 61967-4 Berichtigung 1-2007;DIN EN 62132-1-2016;DIN EN 62132-4-2006;DIN EN 62215-3-2014;IEC 61967-1-2002;IEC 61967-4-2002;IEC 61967-4 AMD 1-2006;IEC 62132-1-2015;IEC 62132-4-2006;IEC 62215-3-2013;IEC 62228-1-2018;ISO 10605-2008 |
| 采用关系： |
DIN EN IEC 62228-1-2018,IDT;IEC 62228-1-2018,IDT |
| 内容提要（EN）： |
Circuit networks;Circuits;Definitions;Electrical engineering;Electromagnetic;Electromagnetic compatibility;Immunity;Influence quantities;Integrated circuits;Interference rejections;Magnetoelectric effects;Measurement;Measurement conditions;Measuring techniques;Testing;Testing conditions;Testing set-ups;Transceivers |
| 内容提要（QT）： |
Condition de mesure;Métrologie;Réseau de circuit;Méthode de mesure;Circuit électronique;Définition;Chips de silicon;Circuit intégré de commutation;Disposition d'essai;Essai;Réseau;Perturbation;Mesurage;Circuit microélectronique;Circuit intégré;Immunité;Réseau (circuit);Conditions d'essai;Circuit électrique;Immunité aux parasites;Electromagnétique;Mesurage, essai et instruments;Technique de mesure;Circuit;Emetteur-récepteur combiné;Metrologie;Microstructure;Commutation;Effet magnéto-électrique;Compatibilité électromagnétique;Electrotechnique;Microstructure électronique |
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