| 标准号： |
EN 62884-1-2017 |
| 英文名称： |
Measurement techniques of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators - Part 1: Basic methods for the measurement (IEC 62884-1:2017); German version EN 62884-1:2017 |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>石英晶体、压电元件 |
| 发布日期： |
2018-0201 |
| 发布单位： |
EN |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 实施日期： |
2018-02-01 |
| ICS分类： |
压电器件和介质器件>>压电器件和介质器件 |
| 起草单位/标准公告： |
DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE;German Commissi |
| 正文语言： |
英语 |
| 原文名称： |
Techniques de mesure des oscillateurs piézoélectriques, diélectriques et électrostatiques - Partie 1: Méthodes fondamentales pour le mesurage (IEC 62884-1:2017); Version allemande EN 62884-1:2017 |
| 页数： |
66P.;A4 |
| 附注： |
History:DIN EN 62884-1-2018-02;DIN EN 62884-1-2015-09 |
| 被代替标准： |
EN 62884-1-2015 |
| 引用标准： |
IEC 60027-1-1992;IEC 60027-1 CORR 1-1993;IEC 60027-1 AMD 1-1997;IEC 60027-1 AMD 2-2005;IEC 60027-2-2005;IEC 60027-3-2002;IEC 60027-4-2006;IEC 60027-6-2006;IEC 60027-7-2010;IEC 60050-561-2014;IEC 60068-1-2013;IEC 60068-2-1-2007;IEC 60068-2-2-2007;IEC 60068-2-6-2007;IEC 60068-2-7-1983;IEC 60068-2-10-2005;IEC 60068-2-13-1983;IEC 60068-2-14-2009;IEC 60068-2-17-1994;IEC 60068-2-20-2008;IEC 60068-2-21-2006;IEC 60068-2-27-2008;IEC 60068-2-30-2005;IEC 60068-2-31-2008;IEC 60068-2-45-1980;IEC 60068-2-52-2017;IEC 60068-2-58-2015;IEC 60068-2-64-2008;IEC 60068-2-78-2012;IEC/TR 60068-3-12-2014;IEC 60122-1-2002;IEC 60469-2013;IEC 60617-DB-2001;IEC 60679-1-2017;IEC 60679-2-1981;IEC 60679-3-2012;IEC 60679-4-1997;IEC 60679-5-1998;IEC 60748-2-1997;IEC 60749-26-2013;IEC 60749-27-2006;IEC 61000-4-2-2008;IEC 61019-1-2004;IEC 61019-2-2005;IEC 61837-1-2012;IEC 61837-2-2011;IEC 61837-4-2015;ISO 80000-1-2009;ISO 80000-4-2006 |
| 采用关系： |
DIN EN 62884-1-2018,IDT;IEC 62884-1-2017,IDT |
| 内容提要（EN）： |
Approval;Crystals (electronic);Dielectric;Dielectric devices;Electrical engineering;Electronic equipment and components;Electrostatic;Electrostatic devices;Measurement;Measurement conditions;Measuring techniques;Oscillators;Piezoelectric;Piezoelectric devices;Quality;Quality assessment;Quality assessment procedures;Quality requirements;Quartz crystal controlled oscillators;Quartz crystals;Specification (approval);Testing;Types;Legalization;Acceptance |
| 内容提要（QT）： |
Evaluation de la qualité;Diélectrique;Résonateure à quartz;Forme de construction;Composant piézoélectrique;Composant électronique;Oscillateur;Immatriculation;Assurance de la qualité;Exigences de qualité;Qualification;Spécification (approbation);Reconnaissance;Piézoélectrique;Dispositif électronique;Type;Métrologie;Procédure d'assurance de la qualité;Equipement électrostatique;Metrologie;Qualité;Dispositif diélectrique;Mesurage, essai et instruments;Cristal électronique;Technique de mesure;Condition de mesure;Electrotechnique;Matériel et composants électroniques;Agrément;Mesurage;Méthode de mesure;Prototype;Mode;Equipement piézoélectrique;Oscillateur à quartz;Essai;Homologation;Electrostatique |
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