| 标准号： |
IEC 62884-3-2018 |
| 英文名称： |
Measurement techniques of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators - Part 3: Frequency aging test methods |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>石英晶体、压电元件 |
| 发布日期： |
2018-0301 |
| 发布单位： |
IX-IEC |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| ICS分类： |
压电器件和介质器件>>压电器件和介质器件 |
| 起草单位/标准公告： |
IEC/TC 49 Piezoelektrische Bauteile zur Frequenz-Stabilisierung und -Selektion;IEC/TC 49 Piezoelectric devices for frequency control and selection;CEI/CE 49 Dispositifs piézoélectriques pour la commande et le choix de la fréquence |
| 正文语言： |
英语 |
| 原文名称： |
Messverfahren für piezoelektrische, dielektrische und elektrostatische Oszillatoren - Teil 3: Prüfverfahren für die Frequenzalterung |
| 页数： |
13P.;A4 |
| 附注： |
History:IEC 62884-3-2018-03;IEC 49/1248/CDV-2017-10;IEC 49/1210/CD-2017-02;IEC 49/1181/CD-2016-01;IEC 49/1013/CD-2012-10 |
| 被代替标准： |
IEC 49/1248/CDV-2017 |
| 引用标准： |
IEC 60027-1-1992;IEC 60027-1 CORR 1-1993;IEC 60027-1 AMD 1-1997;IEC 60027-1 AMD 2-2005;IEC 60027-2-2005;IEC 60027-3-2002;IEC 60027-4-2006;IEC 60027-6-2006;IEC 60027-7-2010;IEC 60050-561-2014;IEC 60469-2013;IEC 60617-DB-2001;IEC 60679-1-2017;IEC 62884-1-2017;ISO 80000-1-2009 |
| 内容提要（EN）： |
Age inspection;Ageing (materials);Ageing tests;Approval;Crystals (electronic);Dielectric;Dielectric devices;Electrical engineering;Electronic equipment and components;Electrostatic;Electrostatic devices;Frequencies;Measurement;Measurement conditions;Measuring techniques;Non-destructive;Oscillators;Piezoelectric;Piezoelectric devices;Prediction;Quality;Quality assessment;Quality assessment procedures;Quality requirements;Quartz crystal controlled oscillators;Quartz crystals;Specification (approval);Statistical data;Testing;Types;Legalization;Acceptance |
| 归属： |
国际 |
