| 标准号： |
BS EN 60444-3-1993 |
| 英文名称： |
Measurement of quartz crystal unit parameters - Basic method for the measurement of two-terminal parameters of quartz crystal units up to 200 MHz by phase technique in a -network with compensation of the parallel capacitance C0 |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>石英晶体、压电元件 |
| 发布日期： |
1993-09-15 |
| 发布单位： |
GB-BSI |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 实施日期： |
1993-09-15 |
| ICS分类： |
压电器件和介质器件>>压电器件和介质器件 |
| 起草单位/标准公告： |
BSI |
| 正文语言： |
英语 |
| 页数： |
24P;A4 |
| 采用关系： |
EN 60444-3-1997,IDT;IEC/TR 60444-3-1986,IDT;IEC 60444-3-1986,IDT |
| 内容提要（CN）： |
电容测量;电路网络;补偿;测量用连接件;晶体(电子);电气工程;电子工程;频率;测量;测量精度;测量技术;并联电容;参数;相位测量(电);压电器件;谐振阻抗;共振频率;零相位;零位法 |
| 内容提要（EN）： |
Capacitance measurement;Circuit networks;Compensation;Connections for measurement;Crystals (electronic);Electrical engineering;Electronic engineering;Frequencies;Measurement;Measuring accuracy;Measuring techniques;Parallel capacitance;Parameters;Phase measurement (electric);Piezoelectric devices;Resonance resistance;Resonant frequency;Zero phase;Zero-method |
| 归属： |
英国 |
