| 标准号： |
BS EN 60444-2-1993 |
| 英文名称： |
Measurement of quartz crystal unit parameters - Phase offset method for measurement of motional capacitance of quartz crystal units |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>石英晶体、压电元件 |
| 发布日期： |
1993-09-15 |
| 发布单位： |
GB-BSI |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 实施日期： |
1993-09-15 |
| ICS分类： |
压电器件和介质器件>>压电器件和介质器件 |
| 起草单位/标准公告： |
BSI |
| 正文语言： |
英语 |
| 页数： |
20P;A4 |
| 采用关系： |
EN 60444-2-1997,IDT;IEC 60444-2-1980,IDT |
| 内容提要（CN）： |
电容测量;电路网络;测量用连接件;晶体(电子);动态的;电气工程;测量;测量精度;测量技术;运动的;参数;相位测量(电);相位补偿法;压电的;压电器件;压电;测量原理;零相位;零位法 |
| 内容提要（EN）： |
Capacitance measurement;Circuit networks;Connections for measurement;Crystals (electronic);Dynamic;Electrical engineering;Measurement;Measuring accuracy;Measuring techniques;Motional;Parameters;Phase measurement (electric);Phase offset method;Piezoelectric;Piezoelectric devices;Piezoelectricity;Principle of measurement;Zero phase;Zero-method |
| 归属： |
英国 |
