| 标准号： |
EN 61164-2004 |
| 英文名称： |
Reliability growth - Statistical test and estimation methods (IEC 61164:2004); German version EN 61164:2004 |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>可靠性和可维护性 |
| 发布日期： |
2004-11 |
| 发布单位： |
EN |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 实施日期： |
2004-11-01 |
| ICS分类： |
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| 正文语言： |
英语 |
| 原文名称： |
Zuverl?ssigkeitswachstum - Statistische Prüf- und Sch?tzverfahren (IEC 61164:2004); Deutsche Fassung EN 61164:2004 |
| 页数： |
56P.;A4 |
| 采用关系： |
DIN EN 61164-2004,IDT;IEC 61164-2004,IDT |
| 内容提要（CN）： |
数学计算;定义;试验;评定;电气工程;可靠度;缺陷;统计学;产品开发;故障;可靠性试验;计划;估计;电气设备;质量 |
| 内容提要（EN）： |
Defects;Definition;Definitions;Electrical engineering;Electrical equipment;Estimation;Evaluations;Failure;Mathematical calculations;Planning;Product development;Quality;Reliability;Reliability testing;Statistics;Testing |
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