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中文名称:半导体器件.第3部分:分立器件:信号二极管、开关二极管及调整二极管
标准号:IEC 60747-3-2013
标准号: IEC 60747-3-2013
英文名称: Semiconductor devices - Part 3: Discrete devices: Signal, switching and regulator diodes
中标分类 电子元器件与信息技术>>半导体二极管
发布日期: 2013-07
发布单位: IX-IEC
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ICS分类 二极管>>二极管
起草单位/标准公告: IEC/SC 47E
正文语言 英语
原文名称: Dispositifs à semiconducteurs – Partie 3: Dispositifs discrets: Diodes de signal, diodes de commutation et diodes régulatrices (Edition 2.0)
页数: 69P;A4
附注: History:IEC 60747-3 (2013-07);IEC 47E/453/FDIS (2013-03);IEC 47E/411/CDV (2011-08);IEC 47E/395/CD (2010-07);IEC 60747-3 AMD 2 (1993-11);IEC 60747-3 AMD 1 (1991-10);IEC/DIS 47(CO)1222 (1991-06);IEC 60747-3 (1985);IEC 60147-0E (1979);IEC 60147-0D (1974)
被代替标准: IEC 47E/453/FDIS-2013;IEC 60747-3-1985;IEC 60747-3 AMD 1-1991;IEC 60747-3 AMD 2-1993
引用标准: IEC 60050-55-1970;IEC 60050-101-1998;IEC 60050-102-2007;IEC 60050-103-2009;IEC 60050-111-1996;IEC 60050-111 AMD 1-2005;IEC 60050-112-2010;IEC 60050-113-2011;IEC 60050-113 CORR 1-2011;IEC 60050-121-1998;IEC 60050-121 AMD 1-2002;IEC 60050-121 AMD 2-2008;IEC 60050-131-2002;IEC 60050-131 AMD 1-2008;IEC 60050-141-2004;IEC 60050-151-2001;IEC 60050-161-1990;IEC 60050-161 AMD 1-1997;IEC 60050-161 AMD 2-1998;IEC 60050-191-1990;IEC 60050-191 AMD 1-1999;IEC 60050-191 AMD 2-2002;IEC 60050-195-1998;IEC 60050-195 AMD 1-2001;IEC 60050-212-2010;IEC 60050-221-1990;IEC 60050-221 AMD 1-1993;IEC 60050-221 AMD 2-1999;IEC 60050-221 AMD 3-2007;IEC 60050-300-2001;IEC 60050-321-1986;IEC 60050-351-2006;IEC 60050-371-1984;IEC 60050-371 AMD 1-1997;IEC 60050-393-2003;IEC 60050-394-2007;IEC 60050-411-1996;IEC 60050-411 AMD 1-2007;IEC 60050-415-1999;IEC 60050-421-1990;IEC 60050-426-2008;IEC 60050-431-1980;IEC 60050-436-1990;IEC 60050-441-1984;IEC 60050-441 AMD 1-2000;IEC 60050-442-1998;IEC 60050-444-2002;IEC 60050-445-2010;IEC 60050-447-2010;IEC 60050-448-1995;IEC 60050-461-2008;IEC 60050-466-1990;IEC 60050-471-2007;IEC 60050-482-2004;IEC 60050-521-2002;IEC 60050-531-1974;IEC 60050-541-1990;IEC 60050-551-1998;IEC 60050-551-20-2001;IEC 60050-561-1991;IEC 60050-561 AMD 1-1995;IEC 60050-561 AMD 2-1997;IEC 60050-581-2008;IEC 60050-601-1985;IEC 60050-601 AMD 1-1998;IEC 60050-602-1983;IEC 60050-603-1986;IEC 60050-603 AMD 1-1998;IEC 60050-604-1987;IEC 60050-604 CORR 1-1987;IEC 60050-604 AMD 1-1998;IEC 60050-605-1983;IEC 60050-617-2009;IEC 60050-617 AMD 1-2011;IEC 60050-651-1999;IEC 60050-691-1973;IEC 60050-701-1988;IEC 60050-702-1992;IEC 60050-702 Erratum 1-1992;IEC 60050-702 Erratum 2-1994;IEC 60050-704-1993;IEC 60050-705-1995;IEC 60050-712-1992;IEC 60050-713-1998;IEC 60050-714-1992;IEC 60050-715-1996;IEC 60050-716-1-1995;IEC 60050-721-1991;IEC 60050-722-1992;IEC 60050-723-1997;IEC 60050-723 AMD 1-1999;IEC 60050-725-1994;IEC 60050-726-1982;IEC 60050-731-1991;IEC 60050-731 CORR 1-1992;IEC 60050-732-2010;IEC 60050-801-1994;IEC 60050-802-2011;IEC 60050-806-1996;IEC 60050-806 AMD 1-2001;IEC 60050-807-1998;IEC 60050-808-2002;IEC 60050-811-1991;IEC 60050-815-2000;IEC 60050-826-2004;IEC 60050-841-2004;IEC 60050-845-1987;IEC 60050-851-2008;IEC 60050-881-1983;IEC 60050-891-1998;IEC 60747-1-2006;IEC 60747-1 AMD 1-2010
采用关系: BS IEC 60747-3-2015,IDT
内容提要(CN): 元部件;定义;二极管;效率;电气工程;电子工程;电子设备及元件;检验;集成电路;寿命;极限(数学);作标记;测量;测量技术;微电子学;特性;额定值;调节二极管;半导体器件;半导体;信号二极管;开关二极管;测试;电压;基准电压二极管
内容提要(EN): Components;Definitions;Diodes;Efficiency;Electrical engineering;Electronic engineering;Electronic equipment and components;Inspection;Integrated circuits;Life (durability);Limits (mathematics);Marking;Measurement;Measuring techniques;Microelectronics;Properties;Ratings;Regulator diode;Semiconductor devices;Semiconductors;Signal diodes;Switching diodes;Testing;Voltage;Voltage-reference diodes
内容提要(QT): Bauelement;Begriffe;Definition;Diode;Eigenschaft;elektrische Spannung;Elektronik;elektronisches Bauelement;Elektrotechnik;Grenzwert;Halbleiter;Halbleiterbauelement;integrierte Schaltung;Kenndaten;Kennwert;Kennzeichnung;Lebensdauer;Messung;Messverfahren;Mikroelektronik;Prüfung;Prüfverfahren;Qualit?tsprüfung;Schaltdiode;Signaldiode;Spannungsreferenzdiode;Stabilisatordiode;Wirkungsgrad
归属: 国际
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ANSI/EIA 318-B-1996 半导体信号二极管用反向恢复时间测量/注释:1999-04-00批准.  
ANSI/EIA 381-A-1992 二级管Q值测量法  

 

下载“二极管”相关标准(下载...)

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BS IEC 60747-2-2000 分立的半导体器件器件和集成电路.整流二极管  
BS QC 750109-1994 电子元器件质量评估协调体系规范.空白详细规范.电流大于100A的环境温度额定和外壳温度额定的整流器二极管(包括雪崩式整流器二极管)  
BS CECC 50009-1982 电子元器件质量评定协调体系规范.空白详细规范:额定外壳温度的整流二极管  
BS CECC 50008-1982 电子元器件质量评定协调体系规范.空白详细规范:额定环境温度的整流二极管  

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