| 标准号： |
IEC 60747-14-2-2000 |
| 英文名称： |
Semiconductor devices - Part 14-2: Semiconductor sensors; Hall elements |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>敏感元器件及传感器 |
| 发布日期： |
2000-11 |
| 发布单位： |
IX-IEC |
| 标准状态： |
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| ICS分类： |
其他半导体器件>>其他半导体器件 |
| 起草单位/标准公告： |
IEC/SC 47E |
| 正文语言： |
英语 |
| 原文名称： |
Halbleiterbauelemente - Teil 14-2: Halbleiter-Sensoren; Hall-Elemente |
| 页数： |
14P.;A4 |
| 附注： |
History:IEC 60747-14-2 (2000-11);IEC 47E/158/FDIS (2000-05);IEC 47E/121/CDV (1998-09);IEC 47E/42/CDV (1996-03) |
| 被代替标准： |
IEC 47E/158/FDIS-2000 |
| 引用标准： |
IEC 60747-1-1983;IEC 61340-5-1-1998 |
| 采用关系： |
BS IEC 60747-14-2-2001,IDT |
| 内容提要（CN）： |
霍耳效应;测头;半导体器件;电子工程;光电子器件;传感器 |
| 内容提要（EN）： |
Electronic engineering;Hall effect;Optoelectronic devices;Semiconductor devices;Sensors |
| 内容提要（QT）： |
Elektronik;Halbleiterbauelement;Hall-Effekt;optoelektronische Baueinheit;Sensor |
| 归属： |
国际 |
