| 标准号： |
IEC 61189-2-721-2015 |
| 英文名称： |
Test methods for electrical materials, printed boards and other interconnection structures and assemblies - Part 2-721: Test methods for materials for interconnection structures - Measurement of relative permittivity and loss tangent for copper clad laminate at microwave frequency using split post dielectric resonator |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>印制电路 |
| 发布日期： |
2015-04 |
| 发布单位： |
IX-IEC |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| ICS分类： |
印制电路和印制电路板>>印制电路和印制电路板 |
| 正文语言： |
双语(英,法) |
| 原文名称： |
Méthodes d'essai pour les matériaux électriques, les cartes imprimées et autres structures d'interconnexion et ensembles - Partie 2-721: Méthodes d'essai des matériaux pour structures d'interconnexion - Mesure de la permittivité relative et de la tangente de perte pour les stratifiés recouverts de cuivre en hyperfréquences à l'aide d'un résonateur diélectrique en anneaux fendus |
| 页数： |
44P.;A4 |
| 附注： |
History:IEC 61189-2-721 (2015-04);IEC 91/1246/FDIS (2015-02);IEC 91/1169/CDV (2014-05);IEC 91/1110/CD (2013-07) |
| 被代替标准： |
IEC 91/1246/FDIS-2015 |
| 采用关系： |
BS EN 61189-2-721-2015,IDT;EN 61189-2-721-2015,IDT;NF C93-732-721-2015,IDT;STN EN 61189-2-721-2015,IDT;CSN EN 61189-2-721-2015,IDT;DS/EN 61189-2-721-2015,IDT;NEN-EN-IEC 61189-2-721:2015 en-2015,IDT |
| 内容提要（EN）： |
Assemblies;Base materials;Copper-clad;Dielectric constant;Dissipation factor;Electrical components;Electrical engineering;Electrical testing;Electronic equipment and components;Equipment;Frequency ranges;Laminates;Loss;Losses;Materials testing;Microwaves;Permittivity;Permittivity measurement;Printed circuits;Printed-circuit boards;Relative permittivity;Resonators;Specimen preparation;Testing;Reduction;Sample preparation |
| 内容提要（QT）： |
Ausrustung;Basismaterial;Baugruppe;Bestimmung der Dielektrizitatskonstanten;dielektrische Konstante;dielektrische Prufung;Dielektrizitatskonstante;elektrische Prufung;elektrisches Bauteil;elektronisches Bauelement;Elektrotechnik;Frequenzbereich;gedruckte Schaltung;kupferkaschiert;Laminat;Leiterplatte;Materialprufung;Mikrowelle;Minderung;Permittivitat;Permittivitatszahl;Probenvorbereitung;Prufung;Prufverfahren;relative Dielektrizitatskonstante;Resonator;Schichtpressstoff;Verlust;Verlustfaktor |
| 归属： |
国际 |
