| 标准号： |
IEC 62878-1-1-2015 |
| 英文名称： |
Device embedded substrate - Part 1-1: Generic specification - Test methods |
| 中标分类： |
0>>0 |
| 发布日期： |
2015-05 |
| 发布单位： |
IX-IEC |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| ICS分类： |
印制电路和印制电路板>>印制电路和印制电路板 |
| 正文语言： |
双语(英,法) |
| 原文名称： |
Substrat avec appareil(s) intégré(s) - Partie 1-1: Spécification générique - Méthodes d'essai |
| 页数： |
109P.;A4 |
| 附注： |
History:IEC 62878-1-1 (2015-05);IEC 91/1248/FDIS (2015-02);IEC 91/1124/CDV (2013-10);IEC 91/1083/CD (2013-01) |
| 被代替标准： |
IEC 91/1248/FDIS-2015 |
| 引用标准： |
IEC 60068-2-1-2007;IEC 60068-2-2-2007;IEC 60194-2015;IEC 61189-3-2007;IEC/TS 62878-2-4-2015 |
| 采用关系： |
BS EN 62878-1-1-2015,IDT;EN 62878-1-1-2015,IDT;NF C93-778-1-1-2015,IDT;PN-EN 62878-1-1-2015,IDT;CSN EN 62878-1-1-2015,IDT;DS/EN 62878-1-1-2015,IDT;NEN-EN-IEC 62878-1-1:2015 en-2015,IDT |
| 内容提要（EN）： |
Base materials;Components;Design;Electrical engineering;Electrical testing;Electronic engineering;Electronic equipment and components;Environmental tests;Measurement;Measuring techniques;Mechanical testing;Microelectronics;Printed circuits;Printed-circuit boards;Quality;Quality assurance;Reliability;Shipping;Substrates (insulating);Testing;Testing conditions;Visual inspection (testing) |
| 内容提要（QT）： |
Auslegung;Basismaterial;Bauelement;elektrische Prufung;Elektronik;elektronisches Bauelement;Elektrotechnik;gedruckte Schaltung;Leiterplatte;mechanische Prufung;Messung;Messverfahren;Mikroelektronik;Prufbedingung;Prufung;Prufverfahren;Qualitat;Qualitatssicherung;Sichtprufung;Substrat;Tragermaterial;Umgebungsprufung;Verlasslichkeit;Versand |
| 归属： |
国际 |
