| 标准号： |
IEEE 1620-2008 |
| 英文名称： |
Test Methods for the Characterization of Organic Transistors and Materials (IEEE Computer Society) |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体三极管 |
| 发布日期： |
2008-11-21 |
| 发布单位： |
US-IEEE |
| 标准状态： |
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| ICS分类： |
三极管>>三极管 |
| 正文语言： |
英语 |
| 页数： |
24P.;A4 |
| 附注： |
DY489 |
| 被代替标准： |
IEEE 1620-2004 |
| 采用关系： |
ANSI/IEEE 1620-2008,IDT |
| 内容提要（CN）： |
特性记述;定义;电性能;电子设备及元件;材料;测量;测量技术;计量学;纳米技术;有机的;试验设备;测试;测试条件;晶体管 |
| 内容提要（EN）： |
Characterisations;Definition;Definitions;Electrical properties;Electronic equipment and components;Materials;Measurement;Measuring techniques;Metrology;Nanotechnology;Organic;Test equipment;Testing;Testing conditions;Transistors |
| 归属： |
美国 |
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