标准号: |
DIN EN 60424-3-2016 |
英文名称: |
Ferrite cores - Guidelines on the limits of surface irregularities - Part 3: ETD-cores, EER-cores, EC-cores and E-cores (IEC 60424-3:2015); German version EN 60424-3:2016 |
中标分类: |
电子元器件与信息技术>>磁性元器件 |
发布日期: |
2016-08 |
发布单位: |
DE-DIN |
标准状态: |
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ICS分类: |
磁性元件>>磁性元件 |
正文语言: |
德语 |
原文名称: |
Ferritkerne - Leitfaden für Grenzwerte von sichtbaren Besch?digungen der Kernoberfl?che - Teil 3: ETD-Kerne, EER-Kerne, EC-Kerne und E-Kerne (IEC 60424-3:2015); Deutsche Fassung EN 60424-3:2016 |
页数: |
15P.;A4 |
附注: |
History:DIN EN 60424-3 (2016-08);DIN EN 60424-3 (2013-06);DIN EN 60424-3 (2000-06);DIN EN 60424-3 (1998-01) |
被代替标准: |
DIN EN 60424-3-2000;DIN EN 60424-3-2013 |
引用标准: |
IEC 60424-1-2015;IEC 60647-1979;IEC 61185-2005;IEC 62317-7-2005;IEC 62317-8-2006 |
采用关系: |
EN 60424-3-2016,IDT;IEC 60424-3-2015,IDT |
内容提要(EN): |
Chips;Damage;Definitions;EC-cores;E-cores;EER-cores;Electrical engineering;Electronic engineering;ETD-cores;Ferrit cores;Ferrites;Finishes;Generic specification;Guide books;Irregular;Irregularities;Limits (mathematics);Surface defects;Surface texture;Visual inspection (testing) |
内容提要(QT): |
Begriffe;Besch?digung;Chip;Definition;EC-Kern;EER-Kern;E-Kern;Elektronik;Elektrotechnik;ETD-Kern;Fachgrundspezifikation;Ferrit;Ferritkern;Grenzwert;Leitfaden;Oberfl?chenbeschaffenheit;Oberfl?chendefekt;Oberfl?chenstruktur;Sichtprüfung;unregelm??ig;Unregelm??igkeit |
归属: |
德国 |