| 标准号： |
DIN EN 60749-13-2003 |
| 英文名称： |
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13: Salt atmosphere (IEC 60749-13:2002); German version EN 60749-13:2002 |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体分立器件综合 |
| 发布日期： |
2003-04 |
| 发布单位： |
DE-DIN |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 实施日期： |
2003-04-01 |
| ICS分类： |
半导体器件综合>>半导体器件综合 |
| 正文语言： |
德语 |
| 原文名称： |
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 13: Salzatmosph?re (IEC 60749-13:2002); Deutsche Fassung EN 60749-13:2002 |
| 页数： |
8P.;A4 |
| 被代替标准： |
DIN EN 60749-2002 |
| 采用关系： |
EN 60749-13-2002,IDT;IEC 60749-13-2002,IDT |
| 内容提要（CN）： |
电气工程;元部件;半导体;气候;试验;盐雾;气候试验;电子工程;集成电路;半导体器件;环境试验;破坏试验;电子设备及元件;电学测量;机械试验 |
| 内容提要（EN）： |
Climate;Climatic tests;Components;Destructive testing;Electrical engineering;Electrical measurement;Electronic engineering;Electronic equipment and components;Environmental testing;Integrated circuits;Mechanical testing;Salt mist;Semiconductor devices;Semiconductors;Testing |
| 归属： |
德国 |
