| 标准号： |
NF C96-007-1989 |
| 英文名称： |
Semiconductor devices. Discrete devices and integrated circuits. Part 7 : bipolar transistors. |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体二极管 |
| 发布日期： |
1989-06-01 |
| 发布单位： |
FR-AFNOR |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 实施日期： |
1989-06-20 |
| ICS分类： |
三极管>>三极管 |
| 正文语言： |
其他 |
| 原文名称： |
Composants électroniques. Dispositifs ? semiconducteurs. Dispositifs discrets et circuits intégrés - Septi?me partie : transistors bipolaires. |
| 页数： |
115P.;A4 |
| 采用关系： |
IEC 60747-7-1988,IDT |
| 内容提要（CN）： |
验收检验;布置;元部件;额定值;符号;寿命;规范(验收);电气工程;电子设备及元件;测量技术;试验;特性;低频工程;测量;标准参考测量方法;基准方法;低频;检验;可靠度;功率晶体管;射频;高频;晶体管;验收;电子工程;操作时间;验收试验;双极晶体管;半导体器件;半导体;射频设备;双极;分立器件;开关晶体管;集成电路;极限(数学);作标记;定义 |
| 内容提要（EN）： |
Acceptance;Acceptance inspection;Acceptance tests;Bipolar;Bipolar transistors;Components;Definition;Definitions;Discrete;Discrete devices;Electrical engineering;Electronic engineering;Electronic equipment and components;High frequencies;Inspection;Integrated circuits;Layout;Life (durability);Limits (mathematics);Low frequencies;Low-frequency engineering;Marking;Measurement;Measuring techniques;Microwave transistors;Operating time;Power transistors;Properties;Radiofrequencies;Radiofrequency apparatus;Ratings;Reference measuring methods;Reference methods;Reliability;Semiconductor devices;Semiconductors;Specification (approval);Switching transistors;Symbols;Testing;Transistors |
| 归属： |
法国 |
