| 标准号： |
NF C96-051-2006 |
| 英文名称： |
Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET). |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体三极管 |
| 发布日期： |
2006-10-01 |
| 发布单位： |
FR-AFNOR |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 实施日期： |
2006-10-20 |
| ICS分类： |
三极管>>三极管 |
| 正文语言： |
其他 |
| 原文名称： |
Essai de stabilité de température en polarisation pour transistors ? effet de champ métal-oxyde-semiconducteur (MOSFET). |
| 页数： |
15P.;A4 |
| 采用关系： |
EN 62373-2006,IDT;IEC 62373-2006,IDT |
| 内容提要（CN）： |
检验设备;组件;定义;电气工程;电子工程;电子设备及元件;场效应晶体管;极限(数学);测量设备;额定值;半导体器件;稳定性;温度应力;试验;试验装置;热应力;晶体管 |
| 内容提要（EN）： |
Checking equipment;Components;Definition;Definitions;Electrical engineering;Electronic engineering;Electronic equipment and components;Field-effect transistors;Limits (mathematics);Measuring equipment;Ratings;Semiconductor devices;Stability;Temperature stress;Testing;Testing devices;Thermal stress;Transistors |
| 归属： |
法国 |
