| 标准号： |
GB/T 15651.3-2003 |
| 英文名称： |
Discrete semiconductor devices and integrated circuits Part 5-3:Optoelectronic devices Measuring methods |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>光电子器件综合 |
| 发布日期： |
2003-11-24 |
| 发布单位： |
CN-GB |
| 标准状态： |
请与本站工作人员进行确认 |
| 实施日期： |
2004-08-01 |
| ICS分类： |
光电子学、激光设备>>光电子学、激光设备 |
| 起草单位/标准公告： |
华禹光谷股份有限公司半导体厂 |
| ***： |
CF |
| ***： |
A |
| 正文语言： |
汉语 |
| 页数： |
27P.;A4 |
| 采用关系： |
IEC 60747-5-3-1997,IDT |
| 内容提要（CN）： |
集成电路;半导体器件;光电器件;试验 |
| 内容提要（EN）： |
trials;examination;integrated circuit;photovoltaics;testing;integrated circuits;tests;photoelectric devices;test;semiconductor devices |
| 归属： |
中国 |
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